index - Smart Integrated Electronic Systems Accéder directement au contenu

L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

242

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

Tags

Automatic test pattern generation Test confidence Pattern recognition Image Edge Detection Interconnects Current mirror Computer architecture Side-channel analysis RSA Test cost reduction Phase shifter Analog/RF integrated circuits Bioimpedance Indirect testing Education RF integrated circuits NP-hard problems Deep learning Machine-learning algorithms Integrated circuits ADC Bio-logging Sensors Calibration Convective accelerometer SRAM OQPSK Quantum 1-bit acquisition Digital signal processing Self-oscillations Magnetic tunneling Oscillatory neural network Neuromorphic computing Vanadium dioxide RF test Microprocessors Energy Low-power Integrated circuit noise Self-heating Analog signals Technology computer-aided design TCAD Performance Low-cost measurements Transistors Test efficiency Ensemble methods SEU Qubit Edge artificial intelligence edge AI Electrothermal simulation Logic gates FDSOI technology Switches Three-dimensional displays Countermeasures Integrated circuit modeling Circuit simulation Specifications 3D integration Fault tolerance Quantum computing Fault attacks Alternate testing Through-silicon vias Error mitigation Indirect test Noise measurement Reliability Beyond-CMOS devices Electronic tagging Oscillatory neural networks ONN Edge AI Carbon nanotube Time-domain analysis Hardware security Bioimpedance spectroscopy Phase noise Integrated circuit testing Delays Oscillatory Neural Networks One bit acquisition Carbon nanotubes Oscillatory Neural Network Power demand Mutual information Evaluation Three-dimensional integrated circuits Hardware Digital ATE Noise Side-channel attacks Circuit faults ZigBee Test Process variability EM fault injection MEMS Insulator-Metal-Transition IMT