Accounting for Current Degradation Effects in the Compact Noise Modeling of Nano-scale MOSFETs - IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Accounting for Current Degradation Effects in the Compact Noise Modeling of Nano-scale MOSFETs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique Analyse de données, Statistiques et Probabilités [physics.data-an]
Fichier principal
Vignette du fichier
2022102078 (3).pdf (732.29 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Christoforos Theodorou  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03876798

Soumis le : lundi 28 novembre 2022-21:28:37

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:40:38

Télécharger pour visualiser

Dates et versions

hal-03876798 , version 1 (28-11-2022)

Identifiants

Citer

Angeliki Tataridou, Christoforos Theodorou. Accounting for Current Degradation Effects in the Compact Noise Modeling of Nano-scale MOSFETs. 2022 11th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies (MOCAST), Jun 2022, Bremen, Germany. pp.1-4, ⟨10.1109/MOCAST54814.2022.9837755⟩. ⟨hal-03876798⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-SAVOIE UGA CNRS IMEP-LAHC CROMA
34 Consultations
35 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More