Modelling of self-heating effect in FDSOI and bulk MOSFETs operated in deep cryogenic conditions

Gérard Ghibaudo (1) , M. Cassé (1) , F. Serra Di Santa Maria (2) , C. Theodorou (1) , Francis Balestra (1)

1 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Gérard Ghibaudo, M. Cassé, F. Serra Di Santa Maria, C. Theodorou, Francis Balestra. Modelling of self-heating effect in FDSOI and bulk MOSFETs operated in deep cryogenic conditions. Solid-State Electronics, 2022, ⟨10.1016/j.sse.2022.108265⟩. ⟨hal-03852787⟩