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Defect assisted subwavelength resolution in III–V semiconductor photonic crystal flat lenses with n=−1

Maxence Hofman 1 Nathalie Fabre 1 Xavier Mélique 1 Didier Lippens 1 Olivier Vanbésien 1
1 DOME - IEMN - Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN
IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Document type :
Journal articles
Complete list of metadata

https://hal-cnrs.archives-ouvertes.fr/hal-03526142
Contributor : Nathalie Fabre Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, January 14, 2022 - 11:59:41 AM
Last modification on : Saturday, January 15, 2022 - 3:15:46 AM

Identifiers

Citation

Maxence Hofman, Nathalie Fabre, Xavier Mélique, Didier Lippens, Olivier Vanbésien. Defect assisted subwavelength resolution in III–V semiconductor photonic crystal flat lenses with n=−1. Optics Communications, Elsevier, 2010, 283 (6), pp.1169-1173. ⟨10.1016/j.optcom.2009.10.116⟩. ⟨hal-03526142⟩

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